由于XRM技術是一種高質(zhì)、高效的無損檢測技術，又有無需對樣品進行復雜預處理、操作簡便快捷等優(yōu)點，因此其在食品研究領域具有廣闊的應用前景。目前，XRM技術在食品的應用研究主要集中在對食品微觀結構分析，檢測食品內(nèi)部缺陷以及新產(chǎn)品配方評估等方面，而隨著技術的發(fā)展和需求的不斷深入，XRM技術還可以用于研究動態(tài)變化過程中視頻微觀結構的變化，為優(yōu)化食品工藝、配方等過程提供理論依據(jù)。

實例一

不同品牌薯片內(nèi)部組分分布及含量對比，Bruker Skyscan 1275, 27um

切片圖數(shù)據(jù)，不同灰度值表征不同的組分

兩組樣品內(nèi)不同組分的三維分布表征

定量分析，兩組樣品中不同組分體積占比對比

實例二

榛果巧克力內(nèi)部多層結構及不同組分分布表征，Bruker Skyscan1275,29um.

榛果巧克力內(nèi)部結構正交三視圖

樣品內(nèi)部多層結構及不同組分壁厚分布三維表征

實例三

烘焙食品（面包）內(nèi)部網(wǎng)絡結構評價，Skyscan1272，5um，面包等烘焙食品的內(nèi)部是由高度連通的氣孔組成的開孔泡沫結構。其質(zhì)地、彈性和口感在很大程度上取決于這個孔隙網(wǎng)絡的特征。

MIP模式會將保留樣品內(nèi)對X射線衰減能力強的組分，即密度的部分

切片圖數(shù)據(jù)（左圖） MIP（密度投影）模式（右圖）

二值化，通過閾值分割將樣品實體與孔隙區(qū)分開

8bit 灰度值直方圖（左圖） 面包內(nèi)部結構的二值化圖像，實體（白），孔隙（黑）（右圖）

定量分析，面包內(nèi)的壁厚分布和孔徑分布